特許
J-GLOBAL ID：200903090031109757
磁気ディスク検査方法及び検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
笹島 富二雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-215606
公開番号（公開出願番号）：特開平9-063051
出願日： 1995年08月24日
公開日（公表日）： 1997年03月07日
要約：
【要約】【課題】 磁気ディスクの欠陥検査時間を短縮する。【解決手段】 磁気ディスク上の粉塵を除去するバーニッシュ工程の開始から所定の遅れをもたせて、前記磁気ディスク上の異常突起を検出するグライドハイトテスト工程を開始し、さらに所定の遅れをもたせて電磁変換特性の評価を行なう電磁変換特性評価工程を開始して、前記各検査工程を時間差をもたせながら並行して行なう。
請求項（抜粋）：
バーニッシュヘッドで磁気ディスク上の粉塵を除去するバーニッシュ工程と、グライドハイトテスト用ヘッドで前記磁気ディスク上の異常突起を検出するグライドハイトテスト工程と、電磁変換特性評価ヘッドで前記磁気ディスクへのデータの書込みと読出しとを行って電磁変換特性の評価を行なう電磁変換特性評価工程と、からなり、前記バーニッシュ工程の開始から所定の遅れをもたせて前記グライドハイトテスト工程を開始し、さらに所定の遅れをもたせて前記特性評価工程を開始して、前記各工程を時間差をもたせながら並行して行なうことを特徴とする磁気ディスク検査方法。
IPC (3件)：
G11B 5/84
, B23Q 17/20
, G01R 33/12
G11B 5/84 C
, G11B 5/84 A
, B23Q 17/20 Z
, G01R 33/12 Z
