特許
J-GLOBAL ID:200903090069731460

ダブルビーム分光光度計

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 縣 浩介
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-267140
公開番号(公開出願番号):特開平5-072038
出願日: 1991年09月17日
公開日(公表日): 1993年03月23日
要約:
【要約】【目的】 測定時間が短時間で且つ高精度で測定できるダブルビーム分光光度計を提供することを目的とする。【構成】 1光束を同時並行する参照光と試料光の2光束に分割し、上記2光束の光を各別に2つの受光素子で受光し、測定中に上記2光束と上記2受光素子の対応関係を交替させるようにしたダブルビーム分光光度計。
請求項(抜粋):
1光束を同時並行する参照光と試料光の2光束に分割するビームスプリッターと、上記2光束の光を各別に受光する2つの受光素子と、上記2光束と上記2受光素子の対応関係を交替させる手段を有することを特徴とするダブルビーム分光光度計。
IPC (2件):
G01J 3/42 ,  G01N 21/17

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