特許

J-GLOBAL ID：200903090111836889

周波数位相変化による電磁誘導検査装置及びその検査方法

発明者： 八十濱 和彦 ,  小濱 博明
出願人/特許権者： 偕成エンジニア株式会社
代理人 (1件)： 吉田 芳春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-316969
公開番号（公開出願番号）：特開平5-149923
出願日： 1991年11月29日
公開日（公表日）： 1993年06月15日
要約：

【要約】【目的】 電磁誘導による周波数-位相偏位特性を利用して検査対象物の欠陥、異質などの態様を高感度、高精度で検出する電磁誘導検査装置を提供すること。【構成】 電磁誘導検査装置1は電磁誘導により起電力を発生させる検査コイル30を有し、電磁誘導を励起させる印加電源周波数の変化に対する誘導起電力の位相変化によって磁場中に置かれた検査物Sの存在、異質、欠陥などの態様を正確に検査する。

請求項（抜粋）：

交流電流の印加による磁場中で電磁誘導起電力を発生させる検査コイルを有し、該誘導起電力の周波数に対する位相の変化によって磁場中に置かれた検査物の様態を判定する電磁誘導検査装置。

IPC (3件)：

G01N 27/72 ,  G01N 27/90 ,  G01V 3/10

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-241348
  
• 特開昭51-046998
  
• 特開昭61-002065