特許

J-GLOBAL ID：200903090179062440

ビームスプリッタ及び該ビームスプリッタを用いた吸光度測定装置

発明者： 新井 染吉
出願人/特許権者： 電気化学計器株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-182759
公開番号（公開出願番号）：特開平10-010039
出願日： 1996年06月24日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：

【要約】【課題】 複雑な設計作業や大がかりな製造工程を要することなく、所望の分岐比を達成することのできるビームスプリッタ及びこれを用いた吸光度測定装置を提供する。【解決手段】 石英ガラス1の一面側に、部分的かつ略均一に分散するように蒸着によって形成された複数のアルミニウム膜2を備えたビームスプリッタ、及びこのビームスプリッタを用いて第1及び第2の測定セルに光源からの光を分割して導入する吸光度測定装置。

請求項（抜粋）：

透明基板と、該透明基板の一面側に部分的に形成された複数の反射膜とを備え、前記反射膜は前記透明基板の一面側に略均一に分散するように蒸着によって形成されたことを特徴とするビームスプリッタ。

IPC (3件)：

G01N 21/01 ,  G01N 21/59 ,  G02B 5/08

FI (3件)：

G01N 21/01 Z ,  G01N 21/59 Z ,  G02B 5/08 D