特許

J-GLOBAL ID：200903090245968056

分析データ補正方法およびそれに用いる演算装置ならびにその補正方法を用いた粒子分析装置

発明者： 松原 重徳
出願人/特許権者： 東亜医用電子株式会社
代理人 (1件)： 野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-174972
公開番号（公開出願番号）：特開平9-026389
出願日： 1995年07月11日
公開日（公表日）： 1997年01月28日
要約：

【要約】【構成】 基準の粒子分析装置によって検体を測定して基準分布データを作成し、対象の粒子分析装置によって前記検体と同じ検体を測定して対象分布データを作成し、基準分布データと対象分布データとの差を表わす相関パラメータを算出し、対象の粒子分析装置によって任意の検体を測定して分布データを作成し、作成した分布データを前記相関パラメータによって補正することを特徴とする分析データ補正方法。【効果】 1台の粒子分析装置で得られる分布データを基準にして他の粒子分析装置で得られる分布データを較正することにより、複数の粒子分析装置間の特性上のバラツキが適正に補正され、分析結果のバラツキが解消される。

請求項（抜粋）：

基準の粒子分析装置によって検体を測定して基準分布データを作成し、対象の粒子分析装置によって前記検体と同じ検体を測定して対象分布データを作成し、基準分布データと対象分布データとの差を表わす相関パラメータを算出し、対象の粒子分析装置によって任意の検体を測定して分布データを作成し、作成した分布データを前記相関パラメータによって補正することを特徴とする分析データ補正方法。