特許
J-GLOBAL ID：200903090251758462

質量分析装置

発明者：
加藤 義昭

加藤 義昭 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-042511
公開番号（公開出願番号）：特開2003-242926
出願日： 2002年02月20日
公開日（公表日）： 2003年08月29日
要約：
【要約】【課題】イオン/イオン反応による電荷減少の効率の向上を容易に行うことの出来る分析装置を提供する。【解決手段】測定対象試料をイオン化する第1のイオン源と、当該第1のイオン源で生成されたイオンと反対の極性のイオンを生成する第2のイオン源と、当該第1及び第2のイオン源からのイオンを導入し偏向するイオン偏向器と、リング電極と一対のエンドキャップ電極からなるイオントラップ形質量分析計と、当該質量分析計から放出されたイオンを検出する検出器を備え、当該第1及び第2のイオン源からイオンは、共に前記イオン偏向器を介して前記イオントラップ形質量分析計に導入され、当該イオントラップ形質量分析計内で両イオン源からのイオンが混合された後、前記検出器においてイオンの検出を行うことを特徴とする。【効果】反応イオンを十分に供給することが出来るため、イオン/イオン反応による電荷減少の効率を向上させることができる。
請求項（抜粋）：
測定対象試料をイオン化して質量分析する質量分析装置において、測定対象試料をイオン化する第1のイオン源と、当該第1のイオン源で生成されたイオンと反対の極性のイオンを生成する第2のイオン源と、当該第1及び第2のイオン源からのイオンを導入し偏向するイオン偏向器と、リング電極と一対のエンドキャップ電極からなるイオントラップ形質量分析計と、当該質量分析計から放出されたイオンを検出する検出器を備え、当該第1及び第2のイオン源からイオンは、共に前記イオン偏向器を介して前記イオントラップ形質量分析計に導入され、当該イオントラップ形質量分析計内で両イオン源からのイオンが混合された後、前記検出器においてイオンの検出を行うことを特徴とする質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/26
FI (6件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 H ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 L ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/26
Fターム (10件)：
5C038FF07 ,  5C038FF10 ,  5C038HH02 ,  5C038HH05 ,  5C038HH07 ,  5C038HH16 ,  5C038HH28 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ11
引用特許：
出願人引用 (5件)
  • 粒子衝突反応測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-131113   出願人：株式会社島津製作所
  • ESIイオン化装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-246989   出願人：日本電子株式会社
  • 質量分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-085394   出願人：アネルバ株式会社
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審査官引用 (2件)
  • 粒子衝突反応測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-131113   出願人：株式会社島津製作所
  • ESIイオン化装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-246989   出願人：日本電子株式会社
引用文献：
出願人引用 (1件)

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