特許

J-GLOBAL ID：200903090292069221

近赤外線分光分析装置

発明者： 藤岡 定和 ,  森 泰一
出願人/特許権者： 井関農機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-120725
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321204
出願日： 1993年01月25日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：

【要約】【課題】 農家で収穫される米などの穀物品質を測定する近赤外線分光分析装置に関し、複数箇所で同時に同じ基準状態で測定を行わせようとする。【解決手段】 複数の近赤外線分光分析装置を通信媒体で結びデータの授受を行えるよう構成し、親機の標準サンプル等に基づく基準スペクトルと、子機の基準スペクトルとを比較する手段を設け、当該比較結果に基づいて異常信号を出力し、又は補正作業要求の信号を出力すべく構成する。

請求項（抜粋）：

複数の近赤外線分光分析装置を通信媒体で結びデータの授受を行えるよう構成し、親機の標準サンプル等に基づく基準スペクトルと、子機の基準スペクトルとを比較する手段を設け、当該比較結果に基づいて異常信号を出力し、又は補正作業要求の信号を出力すべく構成してなる近赤外線分光分析装置。

IPC (3件)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/27 ,  G01N 33/10

FI (3件)：

G01N 21/35 Z ,  G01N 21/27 F ,  G01N 33/10