特許

J-GLOBAL ID：200903090346532038

アレイ型受光素子の位置決め方法と分光分析計

発明者： 鈴木 良治 ,  石橋 仁志
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-229542
公開番号（公開出願番号）：特開平6-074825
出願日： 1992年08月28日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：

【要約】【目的】 簡単に分光分析計に備えられるアレイ型受光素子の位置決めをおこなうことができる素子の位置決め方法を得る。【構成】 少なくとも2波長にスペクトルのピークを有する調整用光線束を、凹面回析格子4の二つの特定位置A、Bに入射し、その回折光をアレイ型受光素子6で検出して第一、第二検出情報を得るとともに、少なくとも2波長のピークを受光する少なくとも一対の素子の位置が、前記第一検出情報と前記第二検出情報間において互いに一致するように、アレイ型受光素子6の位置を調節する。

請求項（抜粋）：

分光対象の光線束が入射される凹面回析格子(4)と、前記凹面回析格子(4)より回折する回折光を受光するアレイ型受光素子(6)とを備えた分光分析計(1)のアレイ型受光素子の位置決め方法であって、少なくとも2波長にスペクトルのピークを有する調整用光線束を、前記凹面回析格子(4)の第一特定位置(A)に入射し、その回折光を前記アレイ型受光素子(6)で検出して第一検出情報を得る第一工程と、前記調整用光線束を、前記第一特定位置(A)とは異なった前記凹面回析格子の第二特定位置(B)に入射し、その回折光を前記アレイ型受光素子(6)で検出して第二検出情報を得る第二工程とを備え、前記少なくとも2波長のピークを受光する少なくとも一対の素子の位置が、前記第一検出情報と前記第二検出情報間において互いに一致するように、前記アレイ型受光素子(6)の位置を調節する位置調整工程を備えたアレイ型受光素子の位置決め方法。

IPC (2件)：

G01J 3/36 ,  G01J 1/06