特許

J-GLOBAL ID：200903090365104519

集積マイクロプロセッサ、コンピュータ開発システム、および集積プロセッサのテスト方法

発明者： ハンス・エル・マグナッソン ,  ダグラス・ディー・ゲファート ,  ダン・エス・マジェット
出願人/特許権者： アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 深見 久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-269670
公開番号（公開出願番号）：特開平7-182204
出願日： 1994年11月02日
公開日（公表日）： 1995年07月21日
要約：

【要約】【目的】 種々の動作状態下で集積マイクロプロセッサの構成要素をテストすることができるデバッギングツールを提供する。【構成】 この集積プロセッサ(10)では、1つ以上の機能ユニットおよびスタンドアローンマイクロプロセッサからのレイアウトが共通の半導体ダイ(25)上に配置され共通のローカルバス(30)によって結合される。ダイに配置され共通のバスに結合されるテスト回路は、集積プロセッサの外部で生じるテストコマンド信号に応答し、ホストコンピュータからこれを受取ると、スタンドアローンマイクロプロセッサまたは機能ユニットおよび/またはそれに取付けられる装置に行なうローカルバスサイクルを発生させる。一実施例では、集積プロセッサは、JTAGバスまたは他のテストプロトコルバスによってホストコンピュータに結合されるターゲットコンピュータのマザーボードに組込まれる。

請求項（抜粋）：

集積マイクロプロセッサであって、半導体ダイと、前記ダイ上に位置される中央処理装置と、前記ダイ上に位置され、前記中央処理装置に結合されるローカルバスと、前記ダイ上に位置され、前記ローカルバスに結合される少なくとも1つの機能ユニットと、前記ダイ上に位置され、前記ローカルバスに結合されて、前記マイクロプロセッサの外部で生じるテストコマンドに応答してテスト目的のためにローカルバスサイクルを開始するためのテスト回路とを含む、集積マイクロプロセッサ。

IPC (2件)：

G06F 11/28 ,  G06F 15/78 510