特許

J-GLOBAL ID：200903090374563445

コンピュータのシステム記憶装置を試験する方法および装置

発明者： チンシャン、チェン ,  スコット、ライアン、ポーター ,  ウィリアム、ケイン、リチャードソン ,  ポール、ジュリアス、ロイ
出願人/特許権者： インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
代理人 (1件)： 頓宮 孝一 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-014723
公開番号（公開出願番号）：特開平7-056818
出願日： 1991年01月14日
公開日（公表日）： 1995年03月03日
要約：

【要約】【目的】 システム起動時のコンピュータ装置におけるシステム記憶装置を短時間に試験する装置および方法を提供する。【構成】 記憶装置の最初のブロックが試験され、起動シーケンス中に有効または無効であるとしてマークされる。オペレーティングシステムアプリケーションを最初のブロックにロードでき、かつ正常に動作し、残りのシステム記憶装置を試験するために同時プロセスが呼出される。これにより残りのシステム記憶装置を試験でき、装置の正常な動作中に有効であるとマークされる。

請求項（抜粋）：

記憶装置の第1の部分を試験する過程と、第1の記憶装置部分にオペレーティングシステムをロードし、それの実行を開始する過程と、残りの記憶装置を試験するためのプロセスを開始する過程と、装置の正常な動作と同時に残りの記憶装置を試験する過程と、を備えるコンピュータのシステム記憶装置を試験する方法。

IPC (2件)：

G06F 12/16 330 ,  G06F 1/00 370

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開昭62-128345