特許
J-GLOBAL ID：200903090417074176
薄膜トランジスタおよびその作製方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-078998
公開番号（公開出願番号）：特開平6-267979
出願日： 1993年03月12日
公開日（公表日）： 1994年09月22日
要約：
【要約】【目的】 信頼性と特性に優れた結晶性シリコンの活性層を有する薄膜トランジスタ(TFT)および、そのようなTFTを安価に製造する方法を提供する。【構成】 アモルファスシリコン膜を結晶化させて、これにゲイト絶縁膜、ゲイト電極を形成し、自己整合的に不純物を注入した後、結晶化を促進する触媒元素を有する被膜を不純物領域に密着させるか、あるいは触媒元素をイオン注入等の手段で不純物領域に導入し,しかる後に、基板の歪み温度よりも低い温度でアニールしてドーピング不純物の活性化をおこなう。
請求項（抜粋）：
基板上に形成された結晶性シリコン膜の活性領域を有し、そのソース/ドレイン領域には、1×1017cm-3を越えるの濃度の触媒元素を有し、前記活性領域での触媒元素の濃度は、1×1017cm-3未満であることを特徴とする薄膜トランジスタ。
IPC (5件)：
H01L 21/336
, H01L 29/784
, H01L 21/20
, H01L 21/265
, H01L 21/324
H01L 29/78 311 P
, H01L 21/265 P
