特許
J-GLOBAL ID:200903090490551896

PZT薄膜の形成方法及びPZT薄膜

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 重野 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-054680
公開番号(公開出願番号):特開平10-251022
出願日: 1997年03月10日
公開日(公表日): 1998年09月22日
要約:
【要約】【課題】 基板上に下地層を介して形成したPZT薄膜の残留分極の低下を防止する。【解決手段】 基板上にPbTiX O(2X+1)(ただし0.2≦X≦0.8)下地層を形成し、この下地層上にPZT薄膜形成用前駆体溶液を塗付して熱処理することによりPZT薄膜を形成する。【効果】 膜の結晶化度、平坦性の向上のために下地層を介して形成したPZT薄膜の残留分極の低下を防止して、良好なPZT薄膜を形成できる。
請求項(抜粋):
基板上にPbTiX O(2X+1)(ただし0.2≦X≦0.8)よりなる下地層を形成し、次いでこの下地層の上にPZT薄膜形成用前駆体溶液を塗付し、熱処理してPZT薄膜を形成するPZT薄膜の形成方法。
IPC (5件):
C01G 25/00 ,  C01G 21/00 ,  C01G 23/00 ,  C23C 26/00 ,  C30B 29/32
FI (6件):
C01G 25/00 ,  C01G 21/00 ,  C01G 23/00 C ,  C23C 26/00 C ,  C30B 29/32 D ,  C30B 29/32 Z

前のページに戻る