特許
J-GLOBAL ID:200903090490551896
PZT薄膜の形成方法及びPZT薄膜
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
重野 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-054680
公開番号(公開出願番号):特開平10-251022
出願日: 1997年03月10日
公開日(公表日): 1998年09月22日
要約:
【要約】【課題】 基板上に下地層を介して形成したPZT薄膜の残留分極の低下を防止する。【解決手段】 基板上にPbTiX O(2X+1)(ただし0.2≦X≦0.8)下地層を形成し、この下地層上にPZT薄膜形成用前駆体溶液を塗付して熱処理することによりPZT薄膜を形成する。【効果】 膜の結晶化度、平坦性の向上のために下地層を介して形成したPZT薄膜の残留分極の低下を防止して、良好なPZT薄膜を形成できる。
請求項(抜粋):
基板上にPbTiX O(2X+1)(ただし0.2≦X≦0.8)よりなる下地層を形成し、次いでこの下地層の上にPZT薄膜形成用前駆体溶液を塗付し、熱処理してPZT薄膜を形成するPZT薄膜の形成方法。
IPC (5件):
C01G 25/00
, C01G 21/00
, C01G 23/00
, C23C 26/00
, C30B 29/32
FI (6件):
C01G 25/00
, C01G 21/00
, C01G 23/00 C
, C23C 26/00 C
, C30B 29/32 D
, C30B 29/32 Z
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