特許
J-GLOBAL ID：200903090588210019
炭素同位体分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
後藤 洋介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-173052
公開番号（公開出願番号）：特開平6-018411
出願日： 1992年06月30日
公開日（公表日）： 1994年01月25日
要約：
【要約】【目的】 炭素安定同位体の変化を高精度・高感度にトレースするようにした炭素同位体分析装置を提供する。【構成】 12CO2 検出用の近赤外域のレーザを出力する第1の半導体レーザ10aと、13CO2 検出用の近赤外域のレーザを出力する第2の半導体レーザ10bと、両半導体レーザの発振波長を掃引する制御部11a,11bと、両半導体レーザに周波数変調をかける発振器14と、両半導体レーザから出力された光を交互に試料セル2に入射する光シャッタ16a,16bと、試料セル内の光吸収特性を検出するロックイン増幅器13とを有し、12CO2 検出に波数6514.25±0.2cm-1のときのスペクトルと、13CO2 の検出に波数6789.78±0.2cm-1のときのスペクトルとを求め、両スペクトルの強度比より同位体比を検出する炭素同位体分析装置。
請求項（抜粋）：
光吸収スペクトルより炭素同位体を分析する装置において、12CO2 検出用の近赤外域のレーザを出力する第1の半導体レーザと、13CO2 検出用の近赤外域のレーザを出力する第2の半導体レーザと、前記第1および前記第2の半導体レーザの発振波長を掃引する掃引手段と、前記第1および前記第2の半導体レーザに周波数変調をかける変調手段と、内部に分析すべき炭素同位体が混在する試料セルと、前記第1および前記第2の半導体レーザから出力された光を交互に前記試料セル内に入射する手段と、前記試料セル内の光吸収特性を検出するロックイン増幅手段とを有し、12CO2 検出に波数6514.25±0.2cm-1のときのスペクトルと、13CO2 の検出に波数6789.78±0.2cm-1のときのスペクトルとを求め、両スペクトルの強度比より同位体比を検出することを特徴とする炭素同位体分析装置。
IPC (2件)：
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