特許

J-GLOBAL ID：200903090591543169

粉体測定装置

発明者： 田中 昭夫 ,  鈴木 昭明 ,  彼谷 憲美 ,  辻本 広行
出願人/特許権者： ホソカワミクロン株式会社
代理人 (1件)： 佐野 静夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-331426
公開番号（公開出願番号）：特開平5-249021
出願日： 1991年09月20日
公開日（公表日）： 1993年09月28日
要約：

【要約】【目的】粉体物性値の測定中に、試料粉体が装置周辺に飛散して発塵しないようにする。【構成】装置本体のアクリルカバー74で密閉される測定空間と分散度測定ユニット60の防塵ボックス64とに夫々除塵口78、79を設けて、含塵空気を吸引濾過する。また、分散度測定ユニット60の容器62底面を開口する仕切板をその回動位置でシャッターケースに収容し、アクリルカバー74で密閉される測定空間内の底部に飛散堆積する試料粉体をダストボックスで回収する。

請求項（抜粋）：

安息角、崩潰角、ゆるみ・固め見掛比重、圧縮度、スパチュラ角、凝集度、分散度、差角等の粉体の物性を測定する装置であって、これら物性値を測定するための測定手段と、この測定手段からの発塵を防ぐ手段とを備えていることを特徴とする粉体測定装置。

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特公昭51-014278