特許
J-GLOBAL ID:200903090619083169

ディスク装置とそのスライスレベル自動調整方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山谷 晧榮
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-207732
公開番号(公開出願番号):特開平7-065312
出願日: 1993年08月23日
公開日(公表日): 1995年03月10日
要約:
【要約】【目的】 CDR方式を採用したディスク装置のヘッド別、ゾーン別に最適スライスレベルを決定して保持することにより、記録媒体からデータの読み出しの際、最適スライスレベルをピ-ク検出回路22に設定することを目的とする。【構成】 メモリ26のテストパターンデータを記録媒体20に書き込んだ後、スライスレベルを変化させて読み出したリードデータと、書き込み前のテストパターンデータを比較する比較部25を設け、データ比較部25での比較結果に基づいて、テストパターンデータが正しく読めた時のスライスレベルの範囲から、ピ-ク検出回路22の最適スライスレベルを決定するように構成する。
請求項(抜粋):
媒体(ディスク)に対するデータの書き込み、及び読み出し処理を行うリード/ライト回路(29)と、該リード/ライト回路の制御を行うリード/ライトコントローラ(30)を設けると共に、前記リード/ライト回路(29)には、媒体から読み出したリードアナログ信号を、所定のスライスレベルでスライスして、パルスに変換するピーク検出回路(22)を設け、かつ、媒体のシリンダを複数のゾーンに分け、各ゾーン毎に記録密度を均一化して記録するCDR方式を採用したディスク装置において、前記リード/ライトコントローラ(30)に、テストパターンデータを格納したメモリ(26)を設けると共に、該メモリ(26)のテストパターンデータを媒体に書き込んだ後、前記スライスレベルを変化させて読み出したリードデータと、書き込み前のテストパターンデータとを比較するデータ比較部(25)を設け、該データ比較部(25)での比較結果に基づいて、前記テストパターンデータが正しく読めた時のスライスレベルの範囲を求め、その範囲の間にある値を最適スライスレベルとして、前記ゾーン別に決定可能にしたことを特徴とするディスク装置。

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