特許

J-GLOBAL ID：200903090667988084

半導体装置の測定用ソケット

発明者： 本家 浩子
出願人/特許権者： 日本電気エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 中井 潤
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-284329
公開番号（公開出願番号）：特開2000-113953
出願日： 1998年10月06日
公開日（公表日）： 2000年04月21日
要約：

【要約】【課題】 中継端子等が原因となるノイズの発生を防止するとともに、電気的特性の評価を容易にかつ低コストで行うことのできる半導体装置の測定用ソケットを提供する。【解決手段】 プリント基板3に実装された半導体装置4の電気的特性を測定する際に使用され、半導体装置4を収容する空間を有し、半導体装置4に着脱可能に取り付けられるソケット本体1と、ソケット本体1を貫通し、半導体装置4の各端子6に対応する位置に穿設された観測孔2と、観測孔2の内部に備えられ、半導体装置4の端子6に電気的に接触する接触コンタクト5で構成される。

請求項（抜粋）：

プリント基板に実装された半導体装置の電気的特性を測定する際に使用される半導体装置の測定用ソケットであって、前記半導体装置を収容する空間を有し、該半導体装置に着脱可能に取り付けられるソケット本体と、該ソケット本体を貫通し、前記半導体装置の各端子に対応する位置に穿設された観測孔と、該観測孔の内部に備えられ、前記半導体装置の前記端子に電気的に接触する接触コンタクトで構成されることを特徴とする半導体装置の測定用ソケット。

IPC (4件)：

H01R 33/97 ,  G01R 31/26 ,  H01L 23/32 ,  H05K 1/11

FI (4件)：

H01R 33/97 N ,  G01R 31/26 J ,  H01L 23/32 A ,  H05K 1/11 Z

Fターム (8件)：

2G003AA07 ,  2G003AG01 ,  2G003AG03 ,  2G003AH09 ,  5E317AA02 ,  5E317CC01 ,  5E317CD29 ,  5E317GG16