特許
J-GLOBAL ID：200903090670827490

三次元形状計測装置および三次元形状計測方法

発明者：
水谷 康弘

水谷 康弘 について

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大谷 幸利

大谷 幸利 について

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藤田 宏夫

藤田 宏夫 について


出願人/特許権者：
国立大学法人東京農工大学

国立大学法人東京農工大学 について

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有限会社 フジ・オプトテック

有限会社 フジ・オプトテック について


代理人 (2件)： 平石 利子 ,  久保田 千賀志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-347575
公開番号（公開出願番号）：特開2007-155379
出願日： 2005年12月01日
公開日（公表日）： 2007年06月21日
要約：
【課題】 格子パターンの繰り返しピッチを自在に変更することで多種の被測定対象に対応でき、、また、繰り返しピッチが異なる複数の格子パターンによるコントラストの検出結果を利用して、精度が高い距離検出が可能な三次元形状計測装置および三次元形状計測方法を提供する。【解決手段】 液晶ストライプ格子の開口を制御して空間上での繰り返しパターンを形成でき、かつ繰り返しパターンの繰り返しピッチを変更できる制御部を備えた液晶装置11と、液晶ストライプ格子を介して被測定対象に前記繰り返しパターンを投影する光源装置12と、被測定対象上に投影された前記繰り返しパターンにかかる画像を取得する撮影装置13と、撮影装置により撮影された画像のコントラスト値を検出し、基準位置から前記被測定対象までの距離を測定する距離測定装置13と、を有することを特徴とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
液晶ストライプ格子の開口を制御して空間上での繰り返しパターンを形成でき、かつ前記繰り返しパターンの繰り返しピッチを変更できる制御部を備えた液晶装置と、 前記液晶ストライプ格子を介して被測定対象に前記繰り返しパターンを投影する光源装置と、 前記被測定対象上に投影された前記繰り返しパターンにかかる画像を取得する撮影装置と、 前記撮影装置により撮影された画像のコントラスト値を検出し、基準位置から前記被測定対象までの距離を測定する距離測定装置と、 を有することを特徴とする三次元形状計測装置。
IPC (1件)：
G01B 11/25
FI (1件)：
G01B11/25 H
Fターム (16件)：
2F065AA53 ,  2F065FF06 ,  2F065FF10 ,  2F065GG02 ,  2F065HH06 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL41 ,  2F065NN01 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ17
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (12件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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