特許
J-GLOBAL ID：200903090702498427
距離測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中島 淳 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-278505
公開番号（公開出願番号）：特開平7-128017
出願日： 1993年11月08日
公開日（公表日）： 1995年05月19日
要約：
【要約】【目的】 左右画像の輪郭エッジの対応問題を解くことなく画像中の距離情報を得る。【構成】 光路L1,L2を選択可能なCCDカメラ12からの各フレームの画像信号を順次平滑化後、エッジ強調のため各フレームの画素毎のエッジ強度及びグラジェント角を演算し出力する平滑・微分手段18と、エッジ検出の対象となる画素のグラジェント角により定まる所定領域内のピーク画素を抽出するピーク抽出手段20と、抽出されたピーク画素と平滑・微分手段18の出力とに基づき各画素毎にサブピクセルレベルのエッジ位置情報を出力するサブピクセル位置検出手段22と、エッジ位置情報に基づき前記所定領域内の画素のエッジ直線を生成する線画生成手段24と、時間的に隣接するフレーム間のエッジ直線移動距離を算出し、対象物までの距離を演算する距離演算手段26と、を有する。
請求項（抜粋）：
所定間隔で撮像位置を変更しながら対象物を撮像し各撮像位置に対応する所定間隔毎のフレームの画像信号を出力する撮像手段と、前記撮像手段からの各フレームの画像信号を順次平滑化処理した後、エッジ強調のため平滑化処理後の各フレームの画素毎のエッジ強度及びグラジェント角を演算し出力するエッジ強調処理手段と、前記各フレーム毎のエッジ検出の対象となる画素の前記グラジェント角により定まる領域内の画素のエッジ強度に基づき当該領域内の画素の内エッジ強度が極大値を有するピーク画素を抽出するピーク抽出手段と、前記抽出されたピーク画素と前記エッジ強調処理手段の出力とに基づき各ピーク画素毎にエッジ位置の画素中心からのオフセット量及び前記グラジェント角から成るサブピクセルレベルのエッジ位置情報を各フレーム毎に出力するサブピクセル位置検出手段と、フレーム毎に前記サブピクセル位置情報に基づき画素毎に前記グラジェント角と前記画素中心からのオフセット量とにより定まる前記ピーク画素の領域内のエッジ直線を生成する線画生成手段と、前記線画生成手段から出力される隣接するフレーム間の前記エッジ直線の移動距離を算出し、このエッジ直線の移動距離より対象物までの距離を演算する距離演算手段と、を有する距離測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G01B 11/24
, G06T 7/00
G06F 15/62 400
, G06F 15/62 415
