特許

J-GLOBAL ID：200903090730564290

バックライトの寿命検出方法およびこれを利用する寿命検出装置

発明者： 竹之内 太章
出願人/特許権者： 日本電気エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 望月 秀人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-367524
公開番号（公開出願番号）：特開2000-187215
出願日： 1998年12月24日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
要約：

【要約】【課題】 バックライトへの印加電圧を変更して輝度を調整する輝度調整抵抗を有しているとバックライトの寿命検出の精度が低下してしまうことを防止するために、バックライトの輝度と輝度調整抵抗の抵抗値とに基づいてバックライトの寿命を検出するようにして、寿命検出を高精度に行うようにする。【解決手段】 液晶表示パネル14の裏面から光を照射すると共に発光のために印加する電圧を変更して輝度を調整する輝度調整抵抗18を備えるバックライト12の寿命検出装置10において、バックライト12の輝度を検出する輝度センサ20と、輝度調整抵抗18の抵抗値を検出する抵抗センサ22と、これらのセンサ20、22により得られた検出値に基づいて輝度値を算出し、この輝度値を予め設定した初期輝度値と比較してバックライト12の寿命を検出する制御部24とを備える。

請求項（抜粋）：

液晶表示パネルの裏面から光を照射すると共に発光のために印加する電圧を変更して輝度を調整する輝度調整抵抗を備えるバックライトの寿命検出方法において、前記バックライトの輝度を輝度センサにより検出すると共に、前記輝度調整抵抗の抵抗値を抵抗センサにより検出して、これらのセンサにより得られた検出値に基づいて輝度値を算出し、この輝度値を予め設定した初期輝度値と比較して前記バックライトの寿命を検出することを特徴とするバックライトの寿命検出方法。

IPC (4件)：

G02F 1/1335 530 ,  G02F 1/133 535 ,  G01M 11/00 ,  H05B 37/02

FI (4件)：

G02F 1/1335 530 ,  G02F 1/133 535 ,  G01M 11/00 T ,  H05B 37/02 Z

Fターム (24件)：

2G086EE10 ,  2G086EE11 ,  2H091FA23Z ,  2H091FC30 ,  2H091LA30 ,  2H093NC56 ,  2H093ND60 ,  2H093NE06 ,  3K073AA12 ,  3K073AA13 ,  3K073AA85 ,  3K073AA86 ,  3K073AA87 ,  3K073BA20 ,  3K073BA29 ,  3K073CD01 ,  3K073CF13 ,  3K073CF18 ,  3K073CG02 ,  3K073CG15 ,  3K073CH21 ,  3K073CJ17 ,  3K073CJ19 ,  3K073CJ22