特許
J-GLOBAL ID：200903090768329618
電子部品の狭ピツチリードの計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-307378
公開番号（公開出願番号）：特開平5-145299
出願日： 1991年11月22日
公開日（公表日）： 1993年06月11日
要約：
【要約】【目的】 リードをレーザスポット光の最細部に位置させて、リードを正確に計測できる手段を提供する。【構成】 レーザ装置3の受光部6に入射する反射光からリードLの本数をカウントし、このカウントされた本数と、コンピュータに予め登録された本数を比較することにより、リードLの高さの適否を判断し、その判断結果に基づいて、レーザ装置3とリードLの距離を調整して、レーザスポット光の最細部4aをリードLの下面に照射するようにした。
請求項（抜粋）：
ノズルに吸着された電子部品のリードの下面に、レーザ装置の発光部から発せられたレーザスポット光の最細部を照射し、その反射光を受光部に受光することにより、リードを計測するにあたり、上記受光部に入射する反射光から上記リードの本数をカウントし、このカウントされた本数と、コンピュータに予め登録された本数を比較することにより、上記リードの高さの適否を判断し、その判断結果に基づいて、上記レーザ装置とリードの距離を調整したうえで、レーザスポット光の最細部をリードの下面に照射してこのリードを計測するようにしたことを特徴とする電子部品の狭ピッチリードの計測方法。
IPC (3件)：
H05K 13/08
, G01B 11/00
, H05K 13/04
