特許

J-GLOBAL ID：200903090802834645

粒状体の検査装置

発明者： 嶋野 雅彦 ,  鈴木 祐二 ,  佐藤 裕明
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 北村 修一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-258575
公開番号（公開出願番号）：特開平11-090345
出願日： 1997年09月24日
公開日（公表日）： 1999年04月06日
要約：

【要約】【目的】 不良の検出位置において粒状体群の各粒の位置が流れの厚み方向に変動して不良物の位置がずれて判別された場合にも不良物を適切に分離して選別できるようにする。【構成】 一層状態で横幅方向に広がった広幅状態で流下案内される粒状体群の長尺状の予定存在箇所Jを、長さ方向に沿って区分した各区分からの検出光が、前記予定存在箇所Jの長さよりも短い幅内に並べた受光手段の各受光部にて各別に受光され、その受光情報に基づいて前記予定存在箇所の複数の区分のうちの不良物が存在する区分の位置が判別され、前記複数の区分のうちで不良物が存在すると判別された区分に対応する粒状体を、ノズル6aにて粒状体群の流れから分離するときに、不良物が存在すると判別された区分に隣接する区分に対応する粒状体を併せて、粒状体群の流れから分離して選別する。

請求項（抜粋）：

検査対象物としての粒状体群が一層状態で横幅方向に広がった広幅状態となるように、粒状体群を流下案内させる流下案内手段と、その流下案内手段の下端部から流下する粒状体群が広幅状態で存在することが予定される長尺状の予定存在箇所を照明する照明手段と、前記予定存在箇所をその長さ方向に沿って複数に区分して各区分からの検出光を各別に受光する複数の受光部を、前記予定存在箇所の長さよりも短い幅内に並べた状態で備える受光手段と、その受光手段における複数の受光部の受光情報に基づいて、前記予定存在箇所の複数の区分のうちの不良物が存在する区分の位置を判別する判別手段と、その判別手段の情報に基づいて、前記予定存在箇所における複数の区分のうちで不良物が存在すると判別された区分に対応する粒状体を、前記広幅状態で流下する粒状体群の流れから分離して選別する選別手段とが設けられた粒状体の検査装置であって、前記選別手段が、前記判別手段の情報に基づいて、前記予定存在箇所における複数の区分のうちで不良物が存在すると判別された区分に対応する粒状体を分離するときに、不良物が存在すると判別された区分に隣接する区分に対応する粒状体を併せて、粒状体群の流れから分離して選別するように構成されている粒状体の検査装置。

IPC (3件)：

B07C 5/342 ,  G01N 21/85 ,  G01N 33/10

FI (3件)：

B07C 5/342 ,  G01N 21/85 A ,  G01N 33/10