特許
J-GLOBAL ID：200903090835598068
誤欠品検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 英彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-303632
公開番号（公開出願番号）：特開平8-155766
出願日： 1994年12月07日
公開日（公表日）： 1996年06月18日
要約：
【要約】【目的】 製品に取付けられている部品の誤欠品検査の信頼度を高めるとともに検査作業を容易化する。【構成】 製品とその製品に用いられている部品の関係を示す製品・部品データと、その部品とその部品の視覚的特徴の関係を示す部品・視覚データとを記憶しておく第1記憶手段と、検査者に対して視覚的特徴の入力を要求する入力要求手段と、検査者が入力した視覚的特徴を記憶しておく第2記憶手段と、前記第1記憶手段の記憶内容と前記第2記憶手段の記憶内容を比較して誤欠品の有無を判別する手段とを備えている。【効果】 検査者は入力要求に応えて、視認した特徴を入力すればよい。
請求項（抜粋）：
製品とその製品に用いられている部品の関係を示す製品・部品データと、その部品とその部品の視覚的特徴の関係を示す部品・視覚データとを記憶しておく第1記憶手段と、検査者に対して視覚的特徴の入力を要求する入力要求手段と、検査者が入力した視覚的特徴を記憶しておく第2記憶手段と、前記第1記憶手段の記憶内容と前記第2記憶手段の記憶内容を比較して誤欠品の有無を判別する手段、とを備えている誤欠品検査装置。
IPC (2件)：
B23P 21/00 307
, B23Q 41/08
