特許
J-GLOBAL ID：200903090848777620
温度校正法及びそれを用いた装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永田 久喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-387918
公開番号（公開出願番号）：特開2005-147935
出願日： 2003年11月18日
公開日（公表日）： 2005年06月09日
要約：
【課題】 温度制御装置を有する装置において、測定温度が実際の試料温度でない場合があり、それを校正しなければ正しい測定値が得られない。精度の高い温度制御能力を実現するためには生産時に精度の高い校正がなされなくてはならず、そのためには費用と時間が必要である。さらに、高い温度精度を維持しようとすれば、随時、校正を実施することが求められるが、使用者が校正を実施することは実質的に困難である。【解決手段】 温度制御機能を有しかつ、試料の光透過量あるいは散乱光量を測定することができる装置において、試料の光透過率あるいは散乱率からその装置で求めた融点と予め分かっている該試料の融点とから、当該装置の温度表示値を校正する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
温度制御機能を有しかつ、試料の光透過量あるいは散乱光量を測定することができる装置において、試料の光透過率あるいは散乱率からその装置で求めた融点と予め分かっている該試料の融点とから、当該装置の温度表示値を校正することを特徴とする装置の表示温度校正法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01K15/00
, G01N21/47 B
, G01N21/47 Z
2F056XA01
, 2F056XA05
, 2F056XA07
, 2G059AA03
, 2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059DD16
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059GG10
, 2G059KK01
, 2G059MM14
