特許
J-GLOBAL ID：200903090870193399
材料ひずみ計測装置及び方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
▲吉▼田 繁喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-260128
公開番号（公開出願番号）：特開平10-089950
出願日： 1996年09月10日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】 大きな伸び等の変位や速い試験スピードにも対応でき、また試験片の形状や大きさにも制約を受けることなく、比較的簡単な構成及び操作で試験片標点間の変位量測定が可能な材料ひずみ計測装置及び方法を提供する。【解決手段】 計測装置は、試験材料に固定する固定部2a,2bと該固定部と一体的に形成された測定部3a,3bとを備えた少なくとも2個の測定治具1a,1bと、該測定治具の対向する測定部間の変位をレーザ光Lによって測定する測定手段(レーザ測長機20)とからなる。試験片100の標点位置に測定治具の固定部を取り付け、レーザ測長機のレーザ発振機21から測定部に側方からレーザ光を照射し、検出器22により受光、検出して測定部間の変位を計測することにより、試験片の標点間の変位を測定する。
請求項（抜粋）：
試験材料に固定する固定部(2a,2b)と該固定部と一体的に形成された測定部(3a,3b,3a′,3b′)とを備えた少なくとも2個の測定治具(1a,1b,1a′,1b′)と、該測定治具の対向する測定部間の変位を電磁波によって測定する測定手段(20)とからなることを特徴とする材料ひずみ計測装置。
IPC (6件)：
G01B 21/32
, G01B 7/16
, G01B 11/16
, G01B 15/06
, G01B 17/04
, G01N 3/06
G01B 21/32
, G01B 7/16
, G01B 11/16 Z
, G01B 15/06
, G01B 17/04
, G01N 3/06
