特許

J-GLOBAL ID：200903090930502302

3次元計測装置

発明者： 小段 周久 ,  浅野 斉
出願人/特許権者： ミノルタ株式会社
代理人 (1件)： 板谷 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-124202
公開番号（公開出願番号）：特開2003-315028
出願日： 2002年04月25日
公開日（公表日）： 2003年11月06日
要約：

【要約】【課題】 スリット光を用いる光切断方式により物体形状を非接触計測する3次元計測装置において、3次元データ欠損の自動判別とデータの自動修復を図る。【解決手段】 スリット状の反射光で成る画像データをベクトル変換する手段と、ベクトル変換した画像データの連続性を判別する判別手段とを備え、予備スキャン(S1)において、各スキャン毎にスリット画像をベクトル変換して得られたベクトルの連続性を調べ(S2)、スリット画像が連続でない場合(S2においてNO)、スリット画像が連続となるまで被写体の載置された回転台を回転させる(S5,S6、S7)。次に、本スキャン(S9)において、3次元データの計測を行い、3次元データが欠損するスキャン角度を記憶させておき(S12)、その角度において回転台の回転を行って(S16)、3次元データの自動修復を行う。

請求項（抜粋）：

スリット光を投影して被写体を光学的に走査するための投影手段と、この投影手段により被写体に投影されたスリット光の被写体からの反射光を受光する受光手段と、前記被写体を載置するための回転台と、この回転台を回転させる駆動機構とを備え、前記被写体の形状を非接触で計測する3次元計測装置において、前記受光手段で受光したスリット状の反射光で成る2次元画像データをベクトル変換する手段と、前記ベクトル変換した画像データの連続性を判別する判別手段とを備え、前記スリット光による走査毎に、得られた画像データを前記ベクトル変換する手段によりベクトル変換し、このベクトル変換された画像データの連続性を前記判別手段により判別し、連続性が欠如していると判別された場合に、そのスリット光の走査位置において前記駆動機構により回転台を回転させることで被写体を回転させ、再度、前記スリット光の投影及び投影光の反射光の受光を行うことを特徴とする3次元計測装置。

IPC (3件)：

G01B 11/25 ,  G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315

FI (3件)：

G06T 1/00 315 ,  G01B 11/24 E ,  G01B 11/24 K

Fターム (46件)：

2F065AA04 ,  2F065DD00 ,  2F065DD06 ,  2F065DD12 ,  2F065EE00 ,  2F065EE08 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG06 ,  2F065GG08 ,  2F065GG22 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL06 ,  2F065LL09 ,  2F065LL10 ,  2F065LL13 ,  2F065LL20 ,  2F065LL21 ,  2F065LL26 ,  2F065LL30 ,  2F065LL46 ,  2F065MM16 ,  2F065NN02 ,  2F065NN17 ,  2F065PP05 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ32 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC07 ,  5B057DC09