特許
J-GLOBAL ID:200903090931847036
被検物質分析装置及び定量方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
谷 義一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-302142
公開番号(公開出願番号):特開2006-112976
出願日: 2004年10月15日
公開日(公表日): 2006年04月27日
要約:
【課題】 磁性粒子を用いた被検物質分析において、高感度で、かつ被測定サンプルの厚みに対して高い自由度を有する、高汎用性の被検物質分析装置及び定量方法を提供する。【解決手段】 プラスチック樹脂4からなる被測定サンプル20の底面に、抗原抗体反応を利用して磁性粒子を固定し、被測定サンプル20には、被検物質が特異的に結合した磁性粒子の複合体の固定部19が設けられ、この固定部19をどちらか一方の磁気検出コイル3上に配置してある。2種類の周波数を発生する第1の磁場発生源1及び第2磁場発生源2と、この磁場発生源1,2からの磁場中に配置された磁気検出コイル3からなるとともに、この磁気検出コイル3上に配置された、被検物質が特異的に結合した磁性粒子の複合体の磁性粒子量を検出する磁気検出部とを備え、この磁気検出部により被検物質の磁束変化量を検出することにより、この被検物質を定量する。【選択図】 図8
請求項(抜粋):
2種類の周波数を発生する複数の磁場発生手段と、
該磁場発生手段からの磁場中に配置された磁気検出コイルからなり、該磁気検出コイル上に配置された、被検物質が特異的に結合した磁性粒子の複合体の磁性粒子量を検出する磁気検出手段とを備え、
該磁気検出手段により前記複合体の磁束変化量を検出することにより、該被検物質を定量することを特徴とする被検物質分析装置。
IPC (6件):
G01N 27/72
, G01N 33/483
, G01N 33/53
, G01N 33/536
, G01N 33/543
, G01N 33/553
FI (6件):
G01N27/72
, G01N33/483 E
, G01N33/53 D
, G01N33/536 E
, G01N33/543 541A
, G01N33/553
Fターム (19件):
2G053AA01
, 2G053AA02
, 2G053AB01
, 2G053AB07
, 2G053BA04
, 2G053BA08
, 2G053BB02
, 2G053BB11
, 2G053BC02
, 2G053BC07
, 2G053BC11
, 2G053BC14
, 2G053CA03
, 2G053CB16
, 2G053DA01
, 2G053DA07
, 2G053DA09
, 2G053DA10
, 2G053DB03
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)