特許
J-GLOBAL ID:200903090932135986
OTDR装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-248255
公開番号(公開出願番号):特開平9-184788
出願日: 1996年09月19日
公開日(公表日): 1997年07月15日
要約:
【要約】【課題】 Fading Noiseを十分に抑えて、精度の高いOTDR試験を行うことのできるOTDR装置を提供する。【解決手段】 本発明のOTDR装置(100a)は、OTDR試験用の検査光を出力する検査光光源(1a)を備えている。この検査光光源は、半導体発光素子(10)と、この半導体発光素子から出射した光が入射する位置に配置され、反射波長幅が約1nm以上の回折格子(35)が所定部位に設けられた光導波路(30)とを有している。
請求項(抜粋):
OTDR試験用の検査光を出力する検査光光源を備えたOTDR装置であって、前記検査光光源は、光出射面及びこの光出射面と対向する光反射面を有する半導体発光素子と、前記半導体発光素子から出射した光が入射する位置に配置され、屈折率が光軸に沿って周期的に変化している回折格子であって、反射波長幅が約1nm以上のものが所定部位に設けられた光導波路とを備えることを特徴とするOTDR装置。
IPC (3件):
G01M 11/02
, G02B 6/10
, G02B 6/122
FI (3件):
G01M 11/02 J
, G02B 6/10 C
, G02B 6/12 C
引用特許: