特許
J-GLOBAL ID：200903090937010944
半導体集積回路のレイアウト違反検証装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-342208
公開番号（公開出願番号）：特開平9-185637
出願日： 1995年12月28日
公開日（公表日）： 1997年07月15日
要約：
【要約】【課題】半導体集積回路における電気的特性違反ネットの修正作業の期間短縮を図る。【解決手段】電気的特性の検証を行うため、処理装置内に、ゲート等の配置情報、レイアウトパターン等の配線情報、電気的特性の基準値等のライブラリを入力し、また、ディスプレイ上から検証の対象とするネットを指定し、指定されたネットに対しクロストークノイズ、マイグレーション等の電気的特性の計算を行い、計算の結果、ライブラリに定義された各種制約条件に違反したネットを抽出する。次に、抽出したネットの違反の種類及び違反のレベルにより、表示する色、輝度、模様、線の太さ等を決定する(ステップ105)。制約条件に違反していないネットのレイアウトパターンを通常の色、輝度、模様、線の太さでディスプレイに表示し、抽出した違反ネットのレイアウトパターンをステップ105で決定した色、輝度、模様、線の太さでディスプレイに表示する。
請求項（抜粋）：
半導体集積回路のレイアウトパターンに対し、クロストークノイズ、マイグレーション等の電気的特性の検証を行い、検証の結果、半導体のプロセス及び回路素子の動作周波数等から決まる各種電気的特性の制約条件に違反しているネットを抽出し、その抽出したネットのレイアウトパターンを色分け、高輝度化、太線化等で違反の無いネットと差別化し、違反ネットと違反の無いネットを同時にWSやPC等のディスプレイ上に表示することを特徴とするレイアウト違反検証装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F 15/60 672 A
, G06F 15/60 666 S
, H01L 21/82 C
