特許
J-GLOBAL ID：200903090937247910
表面欠陥検出方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小杉 佳男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-069777
公開番号（公開出願番号）：特開平8-271442
出願日： 1995年03月28日
公開日（公表日）： 1996年10月18日
要約：
【要約】【目的】本発明は、紙、鋼板、アルミ板などの走行する帯状の被検査物の表面に生ずる欠陥を光学的に検出する表面欠陥検出方法及びその装置に関し、被検査物に高さ変動がある場合でも、表面欠陥を正確に検出し、またその種類を正確に判定する。【構成】走行方向の相対的な位置ずれが被検査物の高さ変動量に基づいて補正された、各受光角度毎の位置補正撮像データを得、その位置補正撮像データに基づいて被検査物表面の欠陥を検出する。
請求項（抜粋）：
走行する被検査物の走行方向に交わる幅方向の一次元画像を、複数の一次元撮像器により、複数の受光角度から繰り返し撮像して各受光角度毎の撮像データを得、該撮像データに基づいて、被検査物表面の欠陥を検出する表面欠陥検出方法において、被検査物表面の高さ変動量に基づいて走行方向の相対的な位置ずれが補正された、各受光角度毎の位置補正撮像データを得、該位置補正撮像データに基づいて、被検査物表面の欠陥を検出することを特徴とする表面欠陥検出方法。
FI (2件)：
G01N 21/89 A
, G01N 21/89 B
