特許

J-GLOBAL ID：200903090981686670

光干渉型光ファイバセンサ

発明者： 井澤 隆 ,  根橋 賢司 ,  飯田 秀徳
出願人/特許権者： 東京特殊電線株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-148600
公開番号（公開出願番号）：特開平10-319241
出願日： 1997年05月22日
公開日（公表日）： 1998年12月04日
要約：

【要約】【課題】 一本の光ファイバアームのみの使用で、高感度で遠隔計測に適し、また高温度環境に於ける測定が可能な光干渉型光ファイバセンサを提供する。【解決手段】 レーザ光を出射する光源部(1)と、前記光源部(1)よりの出射光およびセンサ部(4)よりの反射戻り光を分岐する2×2カプラ(2)と、前記出射光および反射戻り光を導波する単一モード光ファイバ(3)と、前記光ファイバ(3)への入射光に対して2つの光路長を有する反射戻り光を発生させ,該光ファイバ(3)に戻すフェルール(4a)からなるセンサ部(4)と、前記光ファイバ(3)中を戻る2つの光路長を有する反射戻り光を受光し,光ファイバ中を往復した光の干渉を検出する検出手段(受光器)(5)とを有し、前記干渉状態の変化によって、前記センサ部(4)に加わる物理量の変化を測定する。

請求項（抜粋）：

光を出射する光源部(1)と、前記光源部(1)よりの出射光およびセンサ部(4)よりの反射戻り光を分岐するカプラ(2)と、前記出射光および反射戻り光を導波する光ファイバ(3)と、前記光ファイバ(3)への入射光に対して2つの光路長を有する反射戻り光を発生させ,該光ファイバ(3)に戻すセンサ部(4)と、前記光ファイバ(3)中を戻る2つの光路長を有する反射戻り光を受光し,光ファイバ中を往復した光の干渉を検出する検出手段(5)とを有し、前記干渉状態の変化によって、前記センサ部(4)に加わる物理量の変化を測定することを特徴とする光干渉型光ファイバセンサ。

IPC (3件)：

G02B 6/00 ,  G01B 9/02 ,  G01K 11/12

FI (3件)：

G02B 6/00 B ,  G01B 9/02 ,  G01K 11/12 F

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭59-072005
  
• 特開昭59-072005