特許

J-GLOBAL ID：200903090996798776

Ni-MHバッテリの劣化度監視方法及びその装置

発明者： 木下 直樹
出願人/特許権者： 本田技研工業株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 辰彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-157170
公開番号（公開出願番号）：特開平7-022073
出願日： 1993年06月28日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：

【要約】【目的】Ni-MHバッテリについて、その劣化度を確実且つ容易に把握することができる劣化度監視方法及びその装置を提供する。【構成】少なくとも充電の初期段階において充電電流値を略一定としてNi-MHバッテリを充電する際に、バッテリの充電開始前の電圧(VI )及び充電開始後の電圧(VN )の差(|VN -VI |)と、充電電流値(IC )と、バッテリ1の温度とを計測する。計測した電圧差と充電電流値との比(|VN -VI |/IC )を求め、さらにその比の値をバッテリの温度に応じて補正する。その補正により得られた値Rによりバッテリの劣化度を把握する。

請求項（抜粋）：

Ni-MHバッテリの劣化度を把握・監視する方法であって、前記バッテリの充電を少なくともその初期段階において充電電流値を略一定として行う工程と、該充電の際に前記バッテリの充電開始前の電圧(VI )と充電開始後の電圧(VN )との差(|VN -VI |)を計測する工程と、該電圧差(|VN -VI |)と前記充電の初期段階において略一定の充電電流値(IC )との比(|VN -VI |/IC またはIC /|VN -VI |)を求める工程とから成り、該比の値により前記バッテリの劣化度を把握・監視することを特徴とするNi-MHバッテリの劣化度監視方法。

IPC (3件)：

H01M 10/48 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/42

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開昭63-157078
  
• 特開昭62-240876