特許

J-GLOBAL ID：200903091000543536

超音波探傷装置

発明者： 村山 章 ,  堀籠 秀和 ,  鬼丸 昭夫
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社 ,  株式会社トキメック
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-284240
公開番号（公開出願番号）：特開平6-138106
出願日： 1992年10月22日
公開日（公表日）： 1994年05月20日
要約：

【要約】【目的】 超音波探触子4,38を用いて欠陥を探傷する場合に、表示器26に表示されるエコーの感度と時間軸とを自動的に校正する。【構成】 互いに異なる時間帯に分割する複数のゲートからなるマルチゲート回路30を設け、エコー比較選択部32で超音波探触子を標準試験片19に当接した状態で走査(移動)させる過程で各ゲートから出力される最大エコー及び経過時間を検出し、遅延時間算出部33で最大エコーの経過時間から楔内(シュー)遅延時間Δtを算出し、時間軸自動校正部29で楔内(シュー)遅延時間に基づいて時間軸の零点調整を行う。屈折角算出部36で、最大エコーの経過時間tmからビーム路程を求め、このビーム路程及び標準試験片の形状から屈折角θを算出する。さらに、感度自動校正部25で最大エコーのエコー高さが規定エコー高さに一致するように受信信号bの感度調整を行う。

請求項（抜粋）：

超音波探触子に一定周期でパルス信号を送出して被試験体内に超音波を入射させ、欠陥に起因する反射波に対応する前記超音波探触子の出力を受信して、受信信号に含まれるエコーを表示器に表示する超音波探傷装置において、前記受信信号を互いに異なる時間帯に分割する複数のゲートからなるマルチゲート回路と、前記超音波探触子を標準試験片に当接した状態で前記超音波探触子と標準試験片との相対位置を変化させる過程で前記マルチゲート回路の各ゲートから出力される各エコーのうちの最大エコーにおけるエコー高さ及びパルス信号送出時刻からの経過時間を検出するエコー比較選択部と、このエコー比較選択部で検出された最大エコーの経過時間から楔内(シュー)遅延時間を算出する遅延時間算出部と、この遅延時間算出部で算出された楔内(シュー)遅延時間で前記表示器における時間軸の零点調整を行う時間軸自動校正部と、前記エコー比較選択部で検出された最大エコーの経過時間からビーム路程を求め、このビーム路程及び前記標準試験片の形状から前記超音波の屈折角を算出する屈折角算出部と、前記エコー比較選択部で検出された最大エコーのエコー高さが規定エコー高さに一致するように前記受信信号の感度調整を行う感度自動校正部とを備えた超音波探傷装置。