特許

J-GLOBAL ID：200903091024993265

超電導体クエンチ検出方法および装置

発明者： 松谷 茂樹 ,  金子 典夫
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 若林 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-010996
公開番号（公開出願番号）：特開平6-221833
出願日： 1993年01月26日
公開日（公表日）： 1994年08月12日
要約：

【要約】【目的】 クエンチ発生に係わる微小な変化を感知でき、酸化物超電導体からなる超電導線材を利用した装置に関しても対処することができる超電導体クエンチ検出方法および装置を提供する。【構成】 インコヒーレントな光を、光学系4,5通過させて、超電導線材1の存在する超電導体装置の側面6に斜めに照射させる。光学系7,8を通過させた反射光から、超電導線材の幾何学的位置を示す画像を光電気変換素子により読み取る。読み取られた超電導線材の幾何学的位置を示す画像のうち等間隔に位置する部分が電気信号前処理装置12により抽出され、抽出された部分がFFT処理装置によりフーリエ変換され周波数空間に変換される。信号解析装置14、制御装置15,16は変換された出力に閾値以上の変化があった場合に、クエンチが発生したと検出し、超電導線材への電流の供給を低下させる。

請求項（抜粋）：

超電導物質によって形成されている超電導線材が、コイル状に巻かれて形成された超電導装置の前記超電導線材の幾何学的位置を示す画像を光学的に読み取り、読み取った画像の幾何学的位置が閾値以上に変化した場合には、クエンチが発生したことを検出する超電導体クエンチ検出方法。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/16 ,  H01L 39/00 ZAA

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開昭61-058219
  
• 特開昭61-133812
  

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-058219
  
• 特開昭63-058030
  
• 特開昭61-133812