特許
J-GLOBAL ID：200903091048059474
コンデンサの信頼性試験方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岸田 正行 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-325128
公開番号（公開出願番号）：特開2001-143977
出願日： 1999年11月16日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
要約：
【要約】【課題】 被試験コンデンサを装置から取り外すことなく、試験途中でコンデンサの劣化を正しく診断できるコンデンサの信頼性試験方法を提供する。【解決手段】被試験コンデンサ5と、該被試験コンデンサ5に直流電圧を印加するための直流電源1とを抵抗4を介して接続する回路であって、前記直流電圧を所定のタイミングで間欠して被試験コンデンサ5に印加させる制御回路6と、被試験コンデンサ5の電圧立上り時間もしくは電圧立下り時間を前記直流電圧の間欠周期と同期して検出し判定する時間判定回路7とを有し、前記直流電圧を間欠的に印加して被試験コンデンサ5に加わる電圧立上り時間もしくは電圧立下り時間を検出しこれら時間に基づいて被試験コンデンサ5の劣化を判定する。
請求項（抜粋）：
被試験コンデンサに直流電圧を印加して該被試験コンデンサの信頼性を評価するコンデンサの信頼性試験方法において、前記直流電圧を間欠的に印加して該被試験コンデンサに加わる電圧立上り時間もしくは電圧立下り時間を検出し、この検出時間に基づいてコンデンサの劣化を判定することを特徴としたコンデンサの信頼性試験方法。
Fターム (4件)：
5E082BC40
, 5E082MM01
, 5E082MM35
, 5E082MM38
