特許
J-GLOBAL ID:200903091050402720

距離測定装置および距離測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-096434
公開番号(公開出願番号):特開2009-250685
出願日: 2008年04月02日
公開日(公表日): 2009年10月29日
要約:
【課題】対象物の距離情報を短時間で測定できる、小型の情報測定装置を提供する。【解決手段】画像センサカメラ1と、画像キャプチャボード2と、画像データを保存するメモリ3と、メモリ3に保存された画像データから対象物までの距離情報を算出する画像処理部4と、画像処理部4で算出された距離情報を表示する表示モニタ5とを備える。画像センサカメラ1は、メインレンズ11と、シャッター12と、マイクロレンズアレイ13と、撮像セルアレイ14とを含む。シャッター12の開口パターンは複数あり、各パターンにおいて、シャッター12の各開口部を通過する光は、撮像セルアレイ14の互いに異なる領域に入射する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
対象物までの距離を測定するための距離測定装置であって、 撮像素子を有するカメラを備え、 前記撮像素子は、それぞれが前記対象物からの物体光を画像信号に変換する複数の撮像セルからなり、 前記カメラは、 前記物体光を集光する撮像レンズと、 前記撮像レンズを通過した前記物体光が入射する複数の集光器からなる集光アレイと、 前記撮像素子に入射する光を制御するシャッターとを含み、 前記シャッターは、複数の前記集光器を透過する光を遮蔽する複数の遮光部および複数の前記集光器を透過する光を通す複数の開口部が、それぞれ配置される複数の配置パターンを有し、 各前記集光部を透過する光は、いずれか1つの前記配置パターンにおいて、前記シャッターを通過し、 各前記配置パターンにおいて、各前記開口部を透過した前記物体光は、前記撮像素子上の互いに異なり、各々が前記集光器の大きさよりも大きい領域に入射し、 各前記配置パターンにおいて前記カメラで得た前記画像信号を、各前記領域における前記物体光を検出した前記撮像セルの位置により定まる前記物体光の前記集光器への入射方向に基づいて並び替えて、並び替えた各前記画像信号を合成し、前記撮像素子が複数の仮想位置の各々に位置する場合に得られるべき再構成画像を生成する再構成手段と、 各前記領域に入射する光量が最大となる前記仮想位置を特定し、前記カメラの光学系のパラメータに基づき前記特定された前記仮想位置を変換し前記距離を算出する距離算出手段とをさらに備える、距離測定装置。
IPC (1件):
G01C 3/06
FI (2件):
G01C3/06 120P ,  G01C3/06 140
Fターム (12件):
2F112AB10 ,  2F112BA05 ,  2F112CA04 ,  2F112CA12 ,  2F112DA04 ,  2F112DA28 ,  2F112DA40 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA41 ,  2F112FA45 ,  2F112GA01
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 高さ情報測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-267817   出願人:オリンパス光学工業株式会社

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