特許
J-GLOBAL ID:200903091056538691

マルチビーム光学システム及び該システムで用いられるビームパワー測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 頓宮 孝一 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-233513
公開番号(公開出願番号):特開平5-210846
出願日: 1992年09月01日
公開日(公表日): 1993年08月20日
要約:
【要約】【目的】 ダイレクトリード/アフタライト光学的データ記憶システム等で用いられる、複数のオーバラップするビームそれぞれのパワーを測定するための簡単で安価な方法及び装置を提供する。【構成】 予め、レーザダイオード20、22の一方をオンにして、反射防止被覆40を介して光検出器100に到達するビーム26、28のパワー、及びカバー16で反射されて光検出器42、44に到達するビームのパワーをそれぞれ検出し、また両ダイオードをオンにして、オーバラップするビームの第1の部分を検出器42で検出し、第2の部分を検出器44で検出し、検出結果を用いてそれぞれのダイオードのビームパワー比を決定する。システムの動作中、これらのパワー比及び検出器42、44からの信号により、個々のダイオードからの各々のレーザパワーを、オーバラップしているレーザを分離することなく、測定することができ、ひいては、レーザパワー制御を容易に行うことができる。
請求項(抜粋):
マルチビーム光学システムにおいて、a)N本(Nは2以上の整数)のオーバラップする放射ビームを発生する放射源と、b)N個の放射検出器と、c)前記N本のビームの異なる部分を前記N個の検出器の各々に向ける方向付け手段と、d)前記検出器に接続されて、前記N本のビームの各々のパワーを表すパワー信号を発生する論理手段とからなることを特徴とするマルチビーム光学システム。
IPC (3件):
G11B 7/00 ,  G11B 7/125 ,  G11B 7/14
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平2-009026

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