特許
J-GLOBAL ID：200903091144559674
表面電位計
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柏木 明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-316872
公開番号（公開出願番号）：特開平5-149988
出願日： 1991年11月29日
公開日（公表日）： 1993年06月15日
要約：
【要約】【目的】 測定対象物と測定電極との間の浮遊容量、距離変動の影響を受けず、かつ、両者間の放電の心配なく、表面電位を測定し得ること。【構成】 測定対象物42に対向させた導電性の探針43と、この探針43と測定対象物42の表面電位VSとの間に作用する静電力FSを検出する静電力検出手段52と、静電力FSが零又はほぼ零となるように探針43の電位V6を可変制御する電位制御手段56と、静電力FSが作用しないように表面電位VSとバランスして浮遊容量、距離変動の影響を受けないように可変制御されたこの探針の電位V6成分中の電位V9を測定する電位測定手段66とを設け、この電位V9に基づき表面電位VS を算出するようにした。
請求項（抜粋）：
測定対象物に対向させた導電性の探針と、この探針と前記測定対象物の表面電位との間に作用する静電力を検出する静電力検出手段と、前記静電力が零又はほぼ零となるように前記探針の電位を可変制御する電位制御手段と、可変制御されたこの探針の電位を測定する電位測定手段とよりなることを特徴とする表面電位計。
IPC (2件)：
G01R 29/12
, G03G 5/00 101
