特許

J-GLOBAL ID：200903091145511993

薄板重ね合わせシーム溶接部の検査方法及び装置

発明者： 橋本 達也 ,  飯塚 幸理
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 細江 利昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-354100
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180421
出願日： 1998年12月14日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：

【要約】【課題】 重ね合わせ部の完全な剥離から数μm以下ののブローホール・ミクロポロシティの欠陥を判定にバラツキなく検出でき、かつ、溶融部の大きさが検出できる超音波探傷方法及び装置を提供する。【解決手段】 ポイントフォーカス型探触子3は、溶接ビード幅方向のある位置において、2軸スキャナー7のビード方向移動機構5により駆動されて、溶接ビード方向に所定ピッチで移動しながらA-スコープ像を採取し、所定の移動距離を進む間に得られたA-スコープの像を積算し、そのビード幅方向位置での平均A-スコープ像を得る。結晶粒の配置は全てランダムなため反射波の位相が干渉して結晶粒からのエコーは低くなる。これに対し、欠陥のある位置は溶接ビード方向に均一な深さであることから、A-スコープ上で反射エコーの位置がそろった強いエコーが探触子に帰ってくるので、積算により強調される。

請求項（抜粋）：

薄板重ね合わせシーム溶接部の溶接状態を超音波により検査する方法であって、周波数が30MHz以上でポイントフォーカスさせた超音波を、溶接部肉厚中央部に焦点がくるように伝播させて、その被検査体内部からの反射エコーをA-スコープ像として得、当該ポイントフォーカスさせた超音波を溶接ビード方向に平行に移動しながらA-スコープ像の時間軸の同じ点のデータを積算して、A-スコープ像の溶接ビード方向平均化像を作成し、この操作を、前記ポイントフォーカスさせた超音波をビード幅方向に移動しながら繰り返し行ってビードの全幅をスキャンし、前記A-スコープ像の溶接ビード方向平均化像から、B-スコープ像を合成することにより、当該シーム溶接部の断層像を得る工程を有してなることを特徴とする薄板重ね合わせシーム溶接部の検査方法。

IPC (2件)：

G01N 29/10 505 ,  B23K 31/00

FI (2件)：

G01N 29/10 505 ,  B23K 31/00 L

Fターム (12件)：

2G047AA07 ,  2G047AB04 ,  2G047AB08 ,  2G047BC07 ,  2G047DA01 ,  2G047DA02 ,  2G047EA10 ,  2G047GB24 ,  2G047GF11 ,  2G047GF18 ,  2G047GG35 ,  2G047GH07