特許

J-GLOBAL ID：200903091147768177

疲労試験装置

発明者： 若島 健司 ,  中代 雅士 ,  北川 正樹
出願人/特許権者： 石川島播磨重工業株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-110476
公開番号（公開出願番号）：特開平5-302880
出願日： 1992年04月28日
公開日（公表日）： 1993年11月16日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 試験片の歪を非接触的に測定すると共に、試験装置および試験片の小型化さらには測定精度の向上を容易に達成する疲労試験装置。【構成】 微小試験片32が装着されて該試験片に繰返し応力を付加する装着装置と、試験片周囲を不活性ガス雰囲気又は真空に保つ少なくとも一部が透明な覆壁24と、試験片の側方に設けられ、該試験片およびその周囲に向けてレーザビームを照射するレーザビーム発振器28と該レーザビームを受光するレーザビーム受振器30とからなるレーザ変位計とを具備する。【効果】 レーザ変位計を使用することで非接触的に試験片の歪を検出することができるので、微小な試験片を小型で簡易な試験装置にて測定することができ、容易に正確なデータを得ることができる。

請求項（抜粋）：

微小な試験片が装着されて該試験片に繰り返し応力を付加する装着装置と、試験片周囲を不活性ガス雰囲気又は真空に保つ少なくとも一部が透明な覆壁と、試験片の側方に設けられ、該試験片およびその周囲に向けてレーザビームを照射するレーザビーム発振器と該レーザビームを受光するレーザビーム受振器とからなるレーザ変位計とを具備することを特徴とする疲労試験装置。

IPC (3件)：

G01N 3/34 ,  G01B 11/00 ,  G01N 3/32

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-149839
  
• 特開平3-144343
  
• 特開昭59-099330