特許
J-GLOBAL ID：200903091148188433
ストラクチャ付セラミック部材のテスト方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢野 敏雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-139577
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043376
出願日： 1995年06月06日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 セラミック部材の中に作動に特有の検査応力を形成させる、簡単に実施可能で、限界値を上回わるとき裂長さを有する部材と同様に、損傷のある部材を確実に選別除去可能なセラミック部材のテスト法を提供する。【構成】 過負荷条件の下でストラクチャ付セラミックをテストするために、部材上に熱ビーム照射により、所望の検査応力すなわち過負荷を生ぜしめる前もって算出された温度分布を形成する。局所-および時間分解能を有する温度センサを用いて温度分布が測定され、所望の、すなわち算出された温度分布と比較され、ビーム照射の持続時間および/または局所を変化することにより、所望の温度分布が形成されるまで、調整される。
請求項（抜粋）：
熱により生ぜしめられる検査応力を形成することによりストラクチャ付セラミック部材をテストする方法において、部材を所定の領域(5)においてビーム照射により加熱し、部材の温度分布を局所分解性の温度センサ(T)を用いて求め、部材の測定された温度分布を、算出された所望の温度分布と比較し、ビーム照射の持続時間および/または局所位置を、部材において所望の温度分布が形成されるまで調整し、音響放射分析により部材の損傷を検出することを特徴とする、ストラクチャ付セラミックのテスト方法。
IPC (3件)：
G01N 33/38
, G01N 25/72
, G01N 29/00 501
