特許
J-GLOBAL ID：200903091174469653
磁界波形測定システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-238798
公開番号（公開出願番号）：特開平8-101262
出願日： 1994年10月03日
公開日（公表日）： 1996年04月16日
要約：
【要約】【目的】 広帯域な周波数成分を有する磁界および電流の時間軸波形を被測定物の形状による制約を受けず、かつ精度よく測定するための測定システムを提供する。【構成】 本測定システムは磁界測定用プローブ2と、波形を数値データに変換し、外部に転送可能な電圧波形測定装置3と、波形処理装置4で構成する。波形処理装置は電圧波形測定装置から送られた時間軸波形の数値データに対し演算を行う数値演算部5と磁界測定用プローブの被測定磁界強度H(f)と出力電圧V(f)の比に関する振幅と位相のデータを入力し記憶する機能を有する磁界測定用プローブ校正データ記憶部6、演算されたデータを出力し時間軸波形として表示する表示部7で構成される。
請求項（抜粋）：
周波数領域における被測定磁界強度と出力電圧の振幅比および位相差の関係である校正係数が既知の磁界測定用プローブと、入力波形を数値データに変換し外部装置に転送可能な電圧波形測定装置と、該電圧波形測定装置から送られた時間軸波形の数値データを処理する波形処理装置で構成され、波形処理装置は入力した数値データを演算処理する演算部と磁界測定用プローブの被測定磁界強度と出力電圧の比に関する振幅と位相のデータを入力し記憶する磁界測定用プローブ校正係数データ記憶部と、演算された時間軸波形データを表示する表示部で構成されることを特徴とする磁界波形測定システム。
IPC (4件)：
G01R 33/02
, G01R 13/20
, G01R 29/00
, G01R 29/08
