特許
J-GLOBAL ID：200903091178169280
光式超音波検出方法、光式超音波検出装置及び超音波診断装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-193234
公開番号（公開出願番号）：特開平8-062186
出願日： 1994年08月17日
公開日（公表日）： 1996年03月08日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、光式超音波検出方法及び超音波検出装置及び超音波診断装置に関し、簡単な構成で光変調された超音波情報を得ることができる光式超音波検出方法及び光式超音波検出装置を提供することを目的としている。また、この光式超音波検出方法を用いた超音波診断装置を提供することを目的としている。【構成】 超音波伝導体を介して超音波を当てることにより、周波数変調された面発光光を出力する面発光レーザダイオード素子と、該面発光レーザダイオード素子からの発光を受ける光検出手段とを具備して構成される。
請求項（抜粋）：
面発光を行なうレーザダイオード素子に超音波伝導体を介して超音波を当て、該超音波を受けることにより、面発光レーザダイオード素子より出力される周波数変調された光を検出することを特徴とする光式超音波検出方法。
IPC (4件)：
G01N 29/00
, A61B 8/00
, G01N 21/00
, H01S 3/00
