特許

J-GLOBAL ID：200903091227541530

液晶パネルの検査装置および液晶パネルの検査方法

発明者： 齊藤 雅夫
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 上柳 雅誉 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-069401
公開番号（公開出願番号）：特開2001-255526
出願日： 2000年03月13日
公開日（公表日）： 2001年09月21日
要約：

【要約】【課題】 高精度の欠陥検出機能を有する液晶パネルの検査装置を提供する。【解決手段】 液晶パネルの検査装置100は、光源装置40と、液晶パネル200が水平に保持される液晶パネル載置台72と、液晶パネルを挟むように配置される一対の偏光板45、46と、液晶パネル200及び一対の偏光板45、46を通過した光源装置40からの光を投射する投射手段50とを具備する。更に、偏光板45、46のそれぞれの偏光軸がなす角度を任意に設定することができる機構を有し、これにより液晶パネル内に混入されたゴミなどの異物の検出が容易となる。

請求項（抜粋）：

光源と、液晶パネルが保持される液晶パネル載置台と、前記液晶パネルを挟むように配置される一対の偏光板と、前記一対の偏光板の少なくとも一つを、該偏光板の面内で回転可能とする偏光板回転手段と、前記液晶パネル及び前記一対の偏光板を通過した前記光源からの光を投射する投射手段と、を具備することを特徴とする液晶パネルの検査装置。

IPC (3件)：

G02F 1/1335 510 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352

FI (3件)：

G02F 1/1335 510 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352

Fターム (26件)：

2H088EA12 ,  2H088FA11 ,  2H088FA30 ,  2H088HA08 ,  2H088HA18 ,  2H088HA21 ,  2H088HA24 ,  2H088HA28 ,  2H088MA20 ,  2H091FA08X ,  2H091FA08Z ,  2H091FA14X ,  2H091FA26X ,  2H091FA41Z ,  2H091GA13 ,  2H091LA12 ,  2H091LA30 ,  2H091MA07 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435BB17 ,  5G435FF05 ,  5G435GG03 ,  5G435GG04 ,  5G435GG08 ,  5G435GG46