特許
J-GLOBAL ID：200903091306390474
距離測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
秋田 収喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-015348
公開番号（公開出願番号）：特開平11-211460
出願日： 1998年01月28日
公開日（公表日）： 1999年08月06日
要約：
【要約】【課題】 2次多重反射光がある場合でも、高精度に距離を測定することが可能な距離測定装置を提供する。【解決手段】 光源(1)と、受光した光エネルギーを光の位置と強さに応じた電気信号に変換する1次元受光素子(9)と、光源からの光ビームが測定対象物の表面で反射された反射光を前記受光素子の受光面に光点として結像させる結像手段(21)と、光源から照射された光ビームを第1の回転ミラー(13)により第1軸方向に制御する第1投光制御手段と、第1投光制御手段から出た光を第2の回転ミラー(12)により第2軸方向に制御する第2投光制御手段と、第2投光制御手段の第2の回転ミラーと同期した第3の回転ミラー(14)により、光源からの光ビームが測定対象物に照射された位置で形成される光スポットの受光素子上への結像を制御する受光制御手段とを備える。
請求項（抜粋）：
光源と、受光した光エネルギーを光の位置と強さに応じた電気信号に変換する1次元受光素子と、前記光源から照射された光ビームが測定対象物の表面で反射された反射光を前記受光素子の受光面に光点として結像させる結像手段と、第1の回転ミラーを有し、当該第1の回転ミラーにより前記光源から照射された光ビームを第1軸方向に制御する第1投光制御手段と、第2の回転ミラーを有し、当該第2の回転ミラーにより前記第1投光制御手段で第1軸方向に制御された光ビームを第2軸方向に制御する第2投光制御手段と、前記第2投光制御手段の第2の回転ミラーと同期した前記第3の回転ミラーを有し、当該第3の回転ミラーにより前記光源から照射された光ビームが測定対象物に照射された位置で形成される光スポットの前記1次元受光素子上への結像を制御する受光制御手段とを備えることを特徴とする距離測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01C 3/06 A
, G01B 11/00 B
