特許
J-GLOBAL ID：200903091363312900
較正方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川口 義雄 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-268394
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116183
出願日： 2001年09月05日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：
【要約】【課題】 従来技術の較正方法における質量オフセットの影響を補償する。【解決手段】 オフセットを補正することによるか、あるいはオフセットが回避されるような方法で質量をピークに割り当てることによるか、いずれかによって達成できる。したがって第1の態様では、フラグメントイオンによって生成されたスペクトルを使ってリフレクトロン型飛行時間質量分析計を較正する方法であって、フラグメントイオンの質量が単同位体ピークだけを使用して割り当てられることを特徴とする較正方法が提供される。言い換えれば、較正のために使われるフラグメントイオンの質量に対応する値は、フラグメントイオン単同位体ピークだけを使用して割り当てられ、また前記値は、質量分析計を較正するために使用される。
請求項（抜粋）：
フラグメントイオンによって生成されるスペクトルを使用して、リフレクトロン型飛行時間質量分析計を較正する方法であって、フラグメントイオンの質量が、単同位体ピークだけを使って割り当てられる較正方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/62 D
, H01J 49/40
