特許
J-GLOBAL ID:200903091365134066
診断に利用し得る3次元超音波イメ-ジデ-タセットの把握方法及び装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
浅野 幸久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-102064
公開番号(公開出願番号):特開平8-308834
出願日: 1996年04月02日
公開日(公表日): 1996年11月26日
要約:
【要約】【課題】 超音波携行部の自由に操作し得るガイドによって、検査すべき全容積又は全空間の断層撮影による把握を3次元デ-タセットにより可能にすることである。【解決手段】 超音波装置により診断に利用し得る3次元イメ-ジデ-タセットを創出するための方法もしくは装置であって、多数の超音波イメ-ジのシ-ケンスを得るための超音波ヘッドを、検査すべき容積にわたり自由に案内する。その時の画面の位置デ-タと方向デ-タを決めるため電磁センサ-システムが備えられ、そのレシ-バは超音波ヘッドに接続される。デ-タの獲得において超音波イメ-ジは先ず位置デ-タ及び方向デ-タを備えた生のデ-タとしてイメ-ジ処理装置に取り出される。次いで生のデ-タは3次元デ-タセットに変換される。該デ-タセットは検査すべき容積を把握し、その全てのイメ-ジデ-タ又はイメ-ジ値が一般座標、特に直角座標に関連する。
請求項(抜粋):
診断に利用し得る3次元イメ-ジデ-タセット(19)を発生するため次の3つを用いて、即ち検査すべき容積から多数の超音波イメ-ジのシ-ケンスを得るため自由に案内される超音波ヘッド(7)を備えた超音波装置(6)を用いて、該超音波装置(6)に接続され且つ発生した超音波イメ-ジのシ-ケンスが供給されるイメ-ジ処理システム(1)を用いて、及び超音波ヘッド(7)の位置と方向、そして生じた超音波イメ-ジの画面の空間的な位置を3つの並進自由度及び回転自由度に関し決定し、それによって後記センサ-システムの位置デ-タと方向デ-タがイメ-ジ処理システム(1)に伝達され、且つ超音波イメ-ジのイメ-ジデ-タ及び前記位置及び方向のデ-タから、検査された容積を断層撮影的に把握する3次元デ-タセット(19)を発生する位置センサ-システム(8)を用いて、診断に利用し得る3次元イメ-ジデ-タセット(19)を発生する方法において、検査すべき容積の3次元の断層撮影イメ-ジ把握のためセンサ-システム(8)として電磁システムが利用され、そのレシ-バ(10)は超音波ヘッド(7)に又はこのヘッド(7)に固定された保持器(17)に備えられ、超音波イメ-ジは先ずイメ-ジ処理システム(1)中でデ-タ獲得を形成する相において生のデ-タとして位置及び方向のデ-タを含むイメ-ジヘッダ-と共に取り出され、及びイメ-ジ処理システム(1)は生のデ-タもしくは生のデ-タセット(18)を全てのイメ-ジデ-タ又はイメ-ジ値(20)が一般座標、特に直角座標に関連する3次元デ-タセット(19)に変換することを特徴とする、診断に利用し得る3次元超音波イメ-ジデ-タセットの把握方法。
引用特許:
審査官引用 (5件)
-
特開平4-332544
-
特表平7-500506
-
特表平3-501453
-
特表平5-500127
-
特開昭59-051346
全件表示
前のページに戻る