特許
J-GLOBAL ID：200903091403811980
レーザーイオン化質量分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田中 政浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-228283
公開番号（公開出願番号）：特開平10-069877
出願日： 1996年08月29日
公開日（公表日）： 1998年03月10日
要約：
【要約】【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレーザー多光子イオン化質量分析技術において、高感度で検出でき、しかも安定して測定できる装置を提供する。【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するスリットノズルを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有し、前記スリットノズルと真空イオン化室の間を仕切って該分子ジェットの周辺部分の分子流の真空イオン化室への進入を阻止するスリットスキマーが設けられていることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。
請求項（抜粋）：
分子ジェットを形成するスリットノズルを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有し、前記スリットノズルと真空イオン化室の間を仕切って該分子ジェットの周辺部分の分子流の真空イオン化室への進入を阻止するスリットスキマーが設けられていることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置
IPC (2件)：
FI (2件)：
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