特許

J-GLOBAL ID：200903091417914588

バーンイン試験用ボード

発明者： 宮川 佳武
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-282500
公開番号（公開出願番号）：特開平7-134160
出願日： 1993年11月11日
公開日（公表日）： 1995年05月23日
要約：

【要約】【目的】 同一のバーンイン試験装置を用い、機能が異なる半導体装置をバーンイン試験する場合でも、同一のバーンイン試験用ボードを用いてバーンイン試験ができるようにすることを目的とする。【構成】 試験対象の半導体IC5に、プログラマブルロジックディバイス14を介して、所定の電源や各信号を供給する。プログラマブルロジックディバイス14に設定されているプログラムを変更することで、半導体IC5の各端子に供給される信号の組み合わせが変更できる。

請求項（抜粋）：

バーンイン試験対象の半導体装置が装着されたバーンイン試験用ボードに、その接栓を介してバーンイン試験装置よりバーンイン試験のための電源と信号とが供給されることにより、前記半導体装置のバーンイン試験を行うバーンイン試験用ボードにおいて、前記接栓と半導体装置との間の信号伝達経路を変更する信号経路切り換え手段を有し、前記接栓を介してバーンイン試験装置より供給されたバーンイン試験のための電源と信号とが前記信号経路切り換え手段を介して前記半導体装置に供給されることを特徴とするバーンイン試験用ボード。