特許
J-GLOBAL ID：200903091423153785
ビート成分多重化ヘテロダイン検波光パルス試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-119276
公開番号（公開出願番号）：特開平5-312673
出願日： 1992年05月12日
公開日（公表日）： 1993年11月22日
要約：
【要約】【構成】 本発明のビート成分多重化ヘテロダイン検波光パルス試験装置は、光源部と、光パルスを試験光と局発光とに分岐する分岐手段と、試験光を入射し被測定光ファイバから発する後方散乱光を取り出す入出力手段と、後方散乱光と局発光とを合波する合波手段と、合波光を電気信号へ変換しビート信号を得る受光手段と、標準信号源と、これらの信号のミキシング手段と、ベースバンド帯域に変換し被測定光ファイバの後方散乱波形を得る処理手段とを具備し、光源部は波長間隔または周波数間隔のいずれかが等しい発振ピークを有する光パルスを出射する複数の光源32,33からなることを特長とする。【効果】 フェーディングノイズを低減することができ、構成が簡単でかつ測定可能範囲の広いヘテロダイン検波を適用した光パルス試験装置を容易に実現させることができる。
請求項（抜粋）：
光パルスを出射する光源部と、該光源部から出射された光パルスを、試験光と局発光とに分岐する分岐手段と、前記試験光を被測定光ファイバに入射し該被測定光ファイバから発する後方散乱光を取り出す入出力手段と、この後方散乱光と前記局発光とを合波する合波手段と、これら合波された光を電気信号へ変換しビート信号を得る受光手段と、標準電気信号を出力する標準信号源と、前記ビート信号と標準信号とをミキシングするミキシング手段と、このミキシングされた電気信号をベースバンド帯域に変換し前記被測定光ファイバの後方散乱波形を得る処理手段とを具備してなるヘテロダイン検波光パルス試験装置において、前記光源部は、波長間隔または周波数間隔のいずれかが等しい発振ピークを有する光パルスを出射する複数の光源からなることを特長とするビート成分多重化ヘテロダイン検波光パルス試験装置。
IPC (2件)：
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