特許

J-GLOBAL ID：200903091425383273

磁気測定装置及び磁気測定方法

発明者： 山本 修 ,  白田 敬治
出願人/特許権者： 三菱マテリアル株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-349556
公開番号（公開出願番号）：特開2001-166023
出願日： 1999年12月08日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：

【要約】【課題】 定電圧源を間欠して磁気インピーダンス素子に印加することによって実効的に磁気インピーダンス素子の高周波駆動を行い、安定な磁気測定を行うことができる磁気測定装置及び磁気測定方法を提供する。【解決手段】 磁界中に置かれると磁界の強さに応じてインピーダンスが変化する磁気インピーダンス素子と、所定抵抗値の抵抗と前記磁気インピーダンス素子の直列接続回路にスイッチを介して所定の直流電圧を印加する定電圧源と、前記スイッチを駆動する発振・スイッチ駆動回路と、前記スイッチを介して印加された電圧によって前記磁気インピーダンス素子に生じた間欠電圧のピーク値を平滑して直流出力を取り出す検波・平滑部と、前記直流出力に基づいて磁界の強さを求める演算部と具備し、前記スイッチは、トランジスタまたはFETによる半導体スイッチとし、ONデューティ比の小さいスイッチングを行うことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

磁界中に置かれると磁界の強さに応じてインピーダンスが変化する磁気インピーダンス素子と、所定抵抗値の抵抗と前記磁気インピーダンス素子の直列接続回路にスイッチを介して所定の直流電圧を印加する定電圧源と、前記スイッチを駆動する発振・スイッチ駆動回路と、前記スイッチを介して印加された電圧によって前記磁気インピーダンス素子に生じた間欠電圧のピーク値を平滑して直流出力を取り出す検波・平滑部と、前記直流出力に基づいて磁界の強さを求める演算部とを具備することを特徴とする磁気測定装置。

IPC (3件)：

G01R 33/02 ,  G01R 15/20 ,  G01R 19/00

FI (3件)：

G01R 33/02 D ,  G01R 19/00 A ,  G01R 15/02 A

Fターム (18件)：

2G017AA05 ,  2G017AB05 ,  2G017AB07 ,  2G017AD51 ,  2G017BA05 ,  2G025AA14 ,  2G025AB01 ,  2G035AA12 ,  2G035AB02 ,  2G035AB07 ,  2G035AC13 ,  2G035AD02 ,  2G035AD03 ,  2G035AD10 ,  2G035AD47 ,  2G035AD54 ,  2G035AD56 ,  2G035AD59